在今天大多數電子產(chǎn)品中，由于超細間距的元器件，雙面貼裝的模塊以及射頻電路的存在，使得根本無(wú)法１００％測量全部電氣節點(diǎn)。雖然電子產(chǎn)品制造廠(chǎng)商當前大量采用的ICT在線(xiàn)測試儀,理想情況是可以用針床給全部電氣節點(diǎn)加載測試信號以發(fā)現制造缺陷。然而，在一些電子產(chǎn)品比如高檔手機中，一個(gè)測試焊盤(pán)甚至比０４０２這樣的分離器件還要大。ICT在線(xiàn)測試儀只能測試其中不到５０％的電氣節點(diǎn)。當這些測試焊盤(pán)比器件還要大時(shí)，就可以理解為什么無(wú)法對產(chǎn)品進(jìn)行１００％的電性能測試。

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