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吉時(shí)利發(fā)布新版半導體器件測試解決方案

來(lái)源: 作者: 熱度:888 日期:11-03-28, 07:15 PM

美國吉時(shí)利(Keithley)儀器公司日前發(fā)布獲獎產(chǎn)品——4200-SCS半導體特征分析系統的最新硬件和軟件升級版本,本次升級引入4200-SCS新一代脈沖測試功能。實(shí)驗室系統的應用將集成直流和脈沖測量功能與完整的應用工具包結合,為用戶(hù)提供完整解決方案。功能增強的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡,為半導體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強大新功能。新升級版本不僅增強了吉時(shí)利4200-PIV工具包功能,還提供兩種新版應用解決方案,將4200-SCS通用直流與脈沖測量功能進(jìn)一步擴展到新領(lǐng)域,例如Flash存儲器測試、高功率射頻器件測試以及先進(jìn)半導體材料的脈沖測試等。

功能增強的測試硬件

吉時(shí)利(Keithley)新型解決方案增強原有的硬件性能, 其采用的新型脈沖發(fā)生器插卡4205-PG2具備多種新功能,例如已申請技術(shù)專(zhuān)利的Segment ARBTM模式,幫助用戶(hù)通過(guò)簡(jiǎn)單線(xiàn)段即能輕松產(chǎn)生復雜波形。Segment ARB功能能夠產(chǎn)生基本的脈沖調制技術(shù)所無(wú)法產(chǎn)生的復雜波形。該功能非常適于Flash存儲器測試,其中需要一些復雜的碼型用于存儲單元特征分析和壽命測試。4205-PG2還集成一個(gè)任意波形發(fā)生器,即ARB模式,且具有一內置高耐用型輸出繼電器,壽命幾乎無(wú)限長(cháng)。利用該繼電器可輕易控制和代替Flash測試中的外置繼電器,縮短耐久性測試時(shí)間。

此外,新增電源擴展4200-SCS系統所允許的配置方案:一個(gè)4200-SCS機架最多實(shí)現支持四個(gè)獨立脈沖發(fā)生器卡。由于每個(gè)4200-PG2具有兩個(gè)通道,因此4200-SCS系統每個(gè)機架最多可支持8個(gè)脈沖通道。同時(shí),集成的4205-PG2為外部觸發(fā)源提供一個(gè)觸發(fā)輸入信號,因此每個(gè)機架內的多個(gè)脈沖卡實(shí)現在10納秒內完成同步。

應對前沿技術(shù)挑戰的應用解決方案

吉時(shí)利(Keithley)本次發(fā)布的應用解決方案建立在功能增強的4205-PG2脈沖發(fā)生器卡和新版應用軟件基礎之上。4200-PIV-Q工具包針對由III-V族半導體材料和LDMOS工藝制成的射頻器件和高功率FET進(jìn)行脈沖I-V測試和信號分析而特別設計。4200-PIV-Q工具簡(jiǎn)單易用,非常靈活,具有±38V電壓、800mA電流和30W功率的脈沖功能,這些參數設計完全滿(mǎn)足高功率應用需求。4200-PIV-Q主要特征是支持脈沖寬度從500ns到直流的靜點(diǎn)(即Q點(diǎn))測試(能夠從非零空閑狀態(tài)產(chǎn)生脈沖)。

新增應用解決方案——4200-FLASH工具包為功能強大的黑盒式Flash存儲器測試解決方案,實(shí)現針對Flash存儲器的三種最重要測試:特征分析、耐久性測試和干擾測試。該應用工具包自動(dòng)實(shí)現直流測試和脈沖測試的切換,無(wú)需外部開(kāi)關(guān)。其內置高耐久性輸出繼電器,摒棄大多數Flash測試采用的外部固態(tài)繼電器,從而加快Flash存儲器的壽命測試,提高測試效率和易用性。此外,4200-FLASH工具包內提供的專(zhuān)用代碼和項目簡(jiǎn)化Flash存儲器測試的配置和啟動(dòng)過(guò)程。

新增的4200-PIV-A工具包,為吉時(shí)利(Keithley)現有獲獎工具包4200-PIV的增強版,專(zhuān)門(mén)針對前沿的CMOS器件特征分析而量身定制,其增強功能包括改進(jìn)的低至100nA的低電流分辨率、結合了脈沖測試與直流測試的友好操作界面和直觀(guān)的圖形界面。

連續的軟件升級

KTEI(Keithley Test Environment Interactive,吉時(shí)利交互式測試環(huán)境)的最新版本V6.2版增強多種軟件功能, 包括采用以太網(wǎng)連接,遠程調用脈沖發(fā)生器和示波硬件,在UTM(User Test Module,用戶(hù)測試模塊)中遠程控制板級測試,這些新功能改進(jìn)了原來(lái)通過(guò)外部PC控制4200-SCS的方式。此外,另一項新功能允許用戶(hù)在多種常規應用中通過(guò)友好的GUI界面與單個(gè)的UTM進(jìn)行交互,包括一個(gè)開(kāi)關(guān)矩陣控制器和PIV測試。KTEI V6.2版還可作為獨立軟件工具包安裝在用戶(hù)PC機,用于離線(xiàn)測試生成和測試后期數據分析?,F有客戶(hù)能夠很方便地升級到新版應用解決方案,保護投資,減少固定設備建設費用,從而降低測試總成本

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