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長(cháng)期二手德律、捷智ICT在線(xiàn)測試儀出售 出租 回收

來(lái)源: 東莞 作者: 熱度:126 日期:18-07-18, 09:44 PM

長(cháng)期二手德律、捷智ICT在線(xiàn)測試儀出售 出租 回收

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JET-300NTict在線(xiàn)測試儀(捷智JET-300NT) 

工廠(chǎng)有ict在線(xiàn)測試儀現貨,并備有樣機演示,歡迎參觀(guān)指導!  

JET-300NT在線(xiàn)測試儀(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極體、電晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如 : 線(xiàn)路短路、斷路、缺件、錯件、零件不良或裝配不良等, 並明確地指出缺點(diǎn)的所在位置, 幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì), 並提高不良品檢修效率. 它還率先使用可用數億次開(kāi)關(guān)的磁簧式繼電器(REED RELAY), 是當今測試涵蓋率最高, 測試最穩定, 使用最方便, 提供資料最齊全的在線(xiàn)測試機.

以下是JET-300ICT在線(xiàn)測試儀的產(chǎn)品特性

 硬體規格 

REED RELAY的掃描板
JET-300NT在線(xiàn)測試儀的掃描板採用了可耐用二億次的REED RELAY,徹底解決了ICT 掃描板容易損壞的問(wèn)題, 由於REED RELAY 的應用,使JET-300在性能上大有改善。諸如:

  1. Zener diode 測試電壓可達50v,所有測試點(diǎn)皆可使用。
  2. 小電容和小電感量測較準確和穩定,較不受溫度的影響。
  3. 電容極性的可偵測率較用CMOS RELAY時(shí)大為提高。
  4. 可耐高壓又有殘存電壓偵測功能,掃描板受到充分的保護。
  5. 配置功能測試的可行性較高。

Agilent TestJet Technology
國安捷倫公司針對SMD IC接腳開(kāi)路難以完整偵測的問(wèn)題,成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應。本公司在取得安捷倫公司的專(zhuān)利授權後,已於JET-300 ICT 系統上配備了此技術(shù),大幅提升了數位電路板的可偵測率。電腦主機板、介面卡或傳真機、數據機的機板皆可得到滿(mǎn)意的測試效果。其應用上的優(yōu)點(diǎn)如下:

  1. Agilent TestJet Technology的功能是利用量測一個(gè)銅箔板與IC腳框(Frame) 之間的電容量來(lái)偵測接腳的斷路與否。此技術(shù)無(wú)需撰寫(xiě)任何程式,即可做正確而迅速的測試。
  2. Agilent TestJet Technology可測試各種不同包裝的IC, 如 Insertion type,PLCC type,QFP type,TAB type,PGA type (無(wú)接地者),BGA type (OMPAC)等都可測試。
  3. Agilent TestJet Technology也可用來(lái)偵測各種插座的接腳斷路,不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測。

寬頻而準確的相位分離量測法
於在RC或RL並聯(lián)電路中的R.L.C. 可用相位測量法,分別量出其零件值,由於信號源頻率寬廣(100Hz到1MHz),因此可以偵測的範圍優(yōu)於一般的ICT,像下圖線(xiàn)路中的零件都可以準確量測。


TR518FE ICT在線(xiàn)測試儀(德律TR-518FE)


產(chǎn)品說(shuō)明

TR518FEICT在線(xiàn)測試儀是德律科技繼成功推出TR518F之後,運用更先進(jìn)之零組件及軟體技術(shù)所開(kāi)發(fā)之新一代機種。其主要特性在於測試 速度較傳統ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化開(kāi)短路學(xué)習模式設定,滿(mǎn)足各種不同待測物之測試特性。對於高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之製程,無(wú)疑是一臺抵兩臺的選擇,無(wú)論在設備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。 

產(chǎn)品特色

應用IC Clamping Diode技術(shù),可輔助檢測 BGA 開(kāi)路空焊問(wèn)題

電腦自動(dòng)學(xué)習並自動(dòng)產(chǎn)生,開(kāi)/短路、Pin Information及IC保護二極體之測試程式 
可網(wǎng)路連線(xiàn),並結合資料庫管理及測試站監控程式
Board View功能可即時(shí)顯示不良元件、針點(diǎn)之位置,方便檢修
大型主機設計,高密度SwitchingBoard,最高可達3584測試點(diǎn)
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