1.ICT能夠在短短的數秒鐘內，全檢出組裝電路板上零件：電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED,普通二極體、穩壓二極體、光藕器、IC等零件，是否在我們設計的規格內運作。
　　2.ICT能夠先期找出制程不良所在，如線(xiàn)路短路、斷路、組件漏件、反向、錯件、空焊等不良問(wèn)題，回饋到制程的改善。
　　3.ICT能夠將上述故障或不良資訊以印表機印出測試結果，包括故障位置、零件標準值、測試值，以供維修人員參考?？梢杂行Ы档腿藛T對產(chǎn)品技術(shù)依賴(lài)度，不需對產(chǎn)品線(xiàn)路了解，照樣有維修能力。
　　4.能夠將測試不良資訊統計，生產(chǎn)管理人員加以分析，可以找出各種不良的產(chǎn)生原因，包括人為的因素在內，使之各個(gè)解決、完善、指正，藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。
　　正是由于ICT以上功能所帶給客戶(hù)的巨大效益，才有今天ICT得已廣泛運用的現實(shí)！

二、ICT特別功能：
1.電解電容極性測試技術(shù)：
　　電解電容反向、漏件100%可測
　　并聯(lián)電解電容反向、漏件100%可測
　　電解電容極性測試技術(shù)的工作原理：
1.1ICT就是利用第三根針施加一激發(fā)訊號（Trigger Signal）于電解電容頂端，并量測第三點(diǎn)與正或負端間的反應訊號（如圖三）
1.2ICT利用DSP（數字訊號處理）技術(shù)加以運算后，轉換成一組向量(Vectors)透過(guò)DFT(Discrete Fourier Transform，離散式傅立葉變換)及FFT(Fast Fourier Transform，快速傅立葉變換）等運算方式，將量得的反應訊號由 t(time) domain（示波器訊號）轉換成 f(frequency) domain（頻譜分析儀訊號）的向量組。
1.3經(jīng)由Learning取得一組標準向量值，而后待測物(DUT---Device Under Test)所量測的值(如圖五)再經(jīng)Pattern Match（特征辨識比對技術(shù)）與原標準值比對，以決定待測物極性正確與否。
Pattern Match的應用如：指紋辨識、偽鈔辨識、視網(wǎng)膜辨識等均是。